Avaliação de implante dental comprometido empregando microscopia eletrônica de varredura e espectrometria dispersiva de raio X

• Autor(es): Bonachela, Wellington Cardoso
• Data: 2010
• Origem: Oasisbr
• Assunto(s): MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
• Tipo de Documento: Artigo científico
• Idioma: Português