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Reliability assessment using degradation models: bayesian and classical approaches
Freitas,Marta Afonso; Colosimo,Enrico Antonio; Santos,Thiago Rezende dos; Pires,Magda C.Traditionally, reliability assessment of devices has been based on (accelerated) life tests. However, for highly reliable products, little information about reliability is provided by life tests in which few or no failures are typically observed. Since most failures arise from a degradation mechanism at work for which there are characteristics that degrade over time, one alternative is monitor the device for a ...
Projeto robusto de parâmetros em sistemas sinal-resposta: comparação de métodos...
Freitas,Marta Afonso; Faleiro,Rosiane Mary Rezende; Borges,Marco FábioA maior parte da literatura relacionada a Projeto Robusto de Parâmetros (RPD), uma metodologia introduzida por Taguchi (1986), envolve situações nas quais a característica de qualidade de interesse (resposta) é uma quantidade única que possui um valor ótimo especificado. Uma tendência recente em aplicações industriais de RPD consiste em considerar sistemas complexos, os quais são chamados de "sistemas com carac...