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Preventing Chaotic Motion in Tapping-Mode Atomic Force Microscope

Rodrigues, Kleber dos Santos; Balthazar, José Manoel [UNESP]; Tusset, Angelo Marcelo; de Pontes, Bento Rodrigues [UNESP]; Bueno, Átila Madureira [UNESP]

Made available in DSpace on 2018-12-11T16:56:52Z (GMT). No. of bitstreams: 0 Previous issue date: 2014-01-01; During the last 30 years the Atomic Force Microscopy became the most powerful tool for surface probing in atomic scale. The Tapping-Mode Atomic Force Microscope is used to generate high quality accurate images of the samples surface. However, in this mode of operation the microcantilever frequently pres...

Data: 2018   |   Origem: Oasisbr

Nanotecnologia: ciência e engenharia

Graeff, Carlos Frederico de Oliveira [UNESP]; Leão, Alcides Lopes [UNESP]; Rosa, André Henrique [UNESP]; Tusset, Angelo Marcelo

Made available in DSpace on 2015-05-22T18:12:55Z (GMT). No. of bitstreams: 0 Previous issue date: 2012; O livro reúne temas de pesquisas representativos das atividades em nanotecnologia realizadas nos vários campi da Unesp. Destinado principalmente à comunidade acadêmica, desde alunos até pesquisadores qualificados nos mais distintos ramos do conhecimento, o trabalho visa lançar uma luz sobre o “estado da arte”...

Data: 2015   |   Origem: Oasisbr

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