Detalhes do Documento

Structure determination of the indium-induced Si(111)-(4X1) reconstruction by surface x-ray diffraction

Autor(es): Feidenhans'l, R

Data: 1999

Origem: Oasisbr

Assunto(s): FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA; FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA


Tipo de Documento Relatório
Idioma Inglês
facebook logo  linkedin logo  twitter logo 
mendeley logo