Detalhes do Documento

Electrical characterization of MOS capacitors with gate of nickel/aluminum

Autor(es): Santos Filho, Sebastião Gomes dos

Data: 2001

Origem: Oasisbr

Assunto(s): MICROELETRÔNICA; MICROELETRÔNICA; MICROELETRÔNICA


Tipo de Documento Outro
Idioma Inglês
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