Detalhes do Documento

Sample preparation method for scanning force microscopy

Autor(es): Landers, R

Data: 2001

Origem: Oasisbr

Assunto(s): MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA; MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA; MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA


Tipo de Documento Artigo científico
Idioma Inglês
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