Document details

Efeito de carga imagem em Poços Quânticos Si/SrTi/O IND. 3 e Si/Hf'O IND. 2'

Author(s): Leite, J. R.

Date: 2004

Origin: Oasisbr

Subject(s): ESTRUTURA ELETRÔNICA; ESTRUTURA ELETRÔNICA; ESTRUTURA ELETRÔNICA


Document Type Other
Language Portuguese
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