Detalhes do Documento

Efeito de carga imagem em Poços Quânticos Si/SrTi/O IND. 3 e Si/Hf'O IND. 2'

Autor(es): Leite, J. R.

Data: 2004

Origem: Oasisbr

Assunto(s): ESTRUTURA ELETRÔNICA; ESTRUTURA ELETRÔNICA; ESTRUTURA ELETRÔNICA


Tipo de Documento Outro
Idioma Português
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