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High-resolution x-ray diffraction analysis of 'Pb IND. 1-x' 'EU IND. x' Te (0.8 '< OU =' x '< OU =' 1.0) expitaxial layers

Autor(es): Henriques, André Bohomoletz

Data: 2006

Origem: Oasisbr

Assunto(s): MATÉRIA CONDENSADA; MATÉRIA CONDENSADA; MATÉRIA CONDENSADA


Tipo de Documento Outro
Idioma Inglês
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