Detalhes do Documento

Combining synchrotron X-ray techniques for studying nanostructured semiconductor devices

Autor(es): Freitas, Raul de Oliveira

Data: 2006

Origem: Oasisbr

Assunto(s): SEMICONDUTORES; SEMICONDUTORES; SEMICONDUTORES


Tipo de Documento Outro
Idioma Inglês
facebook logo  linkedin logo  twitter logo 
mendeley logo