Detalhes do Documento

Influence of quantum-dots density on average in-plane strain of optoelectronic devices investigated by high-resolution X-ray diffraction

Autor(es): Morelhão, Sérgio Luiz

Data: 2009

Origem: Oasisbr

Assunto(s): DIFRAÇÃO POR RAIOS X; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; DIFRAÇÃO POR RAIOS X


Tipo de Documento Outro
Idioma Inglês
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