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Calibração do método PIXE para análise de amostras espessas

Autor(es): Tabacniks, Manfredo Harri

Data: 2009

Origem: Oasisbr

Assunto(s): DIFRAÇÃO POR RAIOS X; DIFRAÇÃO POR RAIOS X; DIFRAÇÃO POR RAIOS X


Tipo de Documento Outro
Idioma Português
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