Author(s): Cândida Klein ; Berenice Anina Dedavid
Date: 2022
Persistent ID: https://hdl.handle.net/10923/22267
Origin: Oasisbr
Subject(s): microanálise por EDS; segregation; Bridgman method; III ? V semiconductor; FTIR; microanálise por EDS; microanálise por EDS; segregation; segregation; Bridgman method; Bridgman method; III ? V semiconductor; III ? V semiconductor; FTIR; FTIR
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