Author(s):
Berenice Anina Dedavid ; Carmem Isse Gomes ; Giovana Machado
Date: 2022
Persistent ID: https://hdl.handle.net/10923/22337
Origin: Oasisbr
Subject(s): Materiais Semicondutores; Materiais poliméricos; Metais; microanálise por EDS; Microscopia Eletrônica de Varredura; Materiais Semicondutores; Materiais Semicondutores; Materiais poliméricos; Materiais poliméricos; Metais; Metais; microanálise por EDS; microanálise por EDS; Microscopia Eletrônica de Varredura; Microscopia Eletrônica de Varredura
Description
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