Publicação
Estudo das propriedades estruturais e ópticas de filmes cerâmicos da família PZT do tipo perovsquite
| Resumo: | Neste trabalho apresenta-se uma caracterização experimental do material cerâmico ferroeléctrico PZTN, produzido sob a forma de filme sobre um substrato de silício (111), utilizando a técnica de ablação por laser pulsado. A caracterização é feita em função de vários parâmetros, tais como: composição do alvo, pressão de vácuo e a emperatura do substrato durante a deposição. As técnicas de caracterização utilizadas são: difractometria de raios-X (XRD); espectrofotometria óptica de transmissão e reflectância, na gama (NIR-VIS-NUV), isto é, do ultra-violeta próximo ao infravermelho próximo; perfilometria e espectroscopia Raman. A partir dos resultados de raio-X obtém-se os parâmetros estruturais, a e α, as fases presentes perovsquite e pirocloro) e uma estimativa do tamanho das cristalites. Calculam-se as tensões internas do material, a partir de resultados de difractometria de raios-x, em função dos ângulos Ψ e θ. Os resultados obtidos por perfilometria permitem obter os valores da espessura dos filmes, bem como a rugosidade dos mesmos. A espectroscopia Raman permite confirmar a fase cristalográfica dos filmes, entre as fases ferroeléctrica tetragonal e ferroeléctrica romboédrica. As medidas de reflectância óptica permitem determinar o índice de refracção dos filmes e obter uma estimativa da sua espessura. |
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| Autores principais: | Lobo, Augusto César Gonçalves |
| Assunto: | PZTN Ablação laser Propriedades físicas Caracterização estrutural Propriedades ópticas Raio-X PZTN Laser ablation Physical properties Structural characterization Optical properties X-ray Profilometry Raman spectroscopy |
| Ano: | 2003 |
| País: | Portugal |
| Tipo de documento: | dissertação de mestrado |
| Tipo de acesso: | acesso aberto |
| Instituição associada: | Universidade do Minho |
| Idioma: | português |
| Origem: | RepositóriUM - Universidade do Minho |
| Resumo: | Neste trabalho apresenta-se uma caracterização experimental do material cerâmico ferroeléctrico PZTN, produzido sob a forma de filme sobre um substrato de silício (111), utilizando a técnica de ablação por laser pulsado. A caracterização é feita em função de vários parâmetros, tais como: composição do alvo, pressão de vácuo e a emperatura do substrato durante a deposição. As técnicas de caracterização utilizadas são: difractometria de raios-X (XRD); espectrofotometria óptica de transmissão e reflectância, na gama (NIR-VIS-NUV), isto é, do ultra-violeta próximo ao infravermelho próximo; perfilometria e espectroscopia Raman. A partir dos resultados de raio-X obtém-se os parâmetros estruturais, a e α, as fases presentes perovsquite e pirocloro) e uma estimativa do tamanho das cristalites. Calculam-se as tensões internas do material, a partir de resultados de difractometria de raios-x, em função dos ângulos Ψ e θ. Os resultados obtidos por perfilometria permitem obter os valores da espessura dos filmes, bem como a rugosidade dos mesmos. A espectroscopia Raman permite confirmar a fase cristalográfica dos filmes, entre as fases ferroeléctrica tetragonal e ferroeléctrica romboédrica. As medidas de reflectância óptica permitem determinar o índice de refracção dos filmes e obter uma estimativa da sua espessura. |
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