Geração de vectores de teste por emparelhamento

• Autor(es): Dias, Fernando Morgado ; Touati, Mohamed Hedi ; Marzouki, Meryem ; Ferrari, António
• Data: 1996
• Origem: Electrónica e Telecomunicações
• Assunto(s): Vectores
• Tipo de Documento: Artigo científico
• Idioma: Português

Descrição

This paper presents a method to generate test vectors for an electronic board composed of modules from which the structural description it’s not known. The only information available is the set of test vectors, their coverage on the primary inputs and outputs of each module provided by the manufacturer and the composition of the board. This method provides test vectors to test the board from its primary inputs and outputs and was automatized, resulting in a iterative software tool, developed in C language.

Este artigo apresenta um método que permite gerar vectores de teste para placas electrónicas compostas por módulos cuja descrição estrutural é desconhecida. Os únicos dados disponíveis são os vectores de teste de cada módulo em separado, a sua cobertura sobre as entradas/saídas primárias de cada módulo fornecidas pelo fabricante e a composição da placa. Este método permite gerar vectores de teste para testar uma placa a partir das suas entradas/saídas primárias e foi automatizado, resultando na implementação de uma ferramenta iterativa desenvolvida em linguagem C.