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Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais com bifurcações

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Detalhes bibliográficos
Resumo:Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxílio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de imagem para a determinação da espessura camada de plasma de uma forma automática.
Autores principais:Bento, David
Outros Autores:Cidre, Diana; Lima, José; Dias, Ricardo P.; Lima, Rui A.
Assunto:Camada de plasma Bifurcação Método automático
Ano:2013
País:Portugal
Tipo de documento:comunicação em conferência
Tipo de acesso:acesso aberto
Instituição associada:Instituto Politécnico de Bragança
Idioma:português
Origem:Biblioteca Digital do IPB
Descrição
Resumo:Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxílio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de imagem para a determinação da espessura camada de plasma de uma forma automática.