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Metrologia óptica: caracterização microtopografica de superfícies

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Detalhes bibliográficos
Resumo:A caracterização dimensional de superficies seja rugometrica, perfilometrica ou topográfica é de enorme importancia em muitas industrias. Nesta aula breve faremos uma discussão genérica sobre o tema concretizando com a inspeção óptica não destructiva da microtopografia de superficies rugosas apresentando parte do trabalho desenvolvido no Labortáorio de Microtopografia do Departamento de Física da Universidade do Minho.
Autores principais:Costa, Manuel F. M.
Assunto:Microtopografia Triangulação
Ano:2015
País:Portugal
Tipo de documento:palestra
Tipo de acesso:acesso aberto
Instituição associada:Universidade do Minho
Idioma:português
Origem:RepositóriUM - Universidade do Minho
Descrição
Resumo:A caracterização dimensional de superficies seja rugometrica, perfilometrica ou topográfica é de enorme importancia em muitas industrias. Nesta aula breve faremos uma discussão genérica sobre o tema concretizando com a inspeção óptica não destructiva da microtopografia de superficies rugosas apresentando parte do trabalho desenvolvido no Labortáorio de Microtopografia do Departamento de Física da Universidade do Minho.